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工业金相显微镜
RQP-401A
产品介绍
仪器可用于金相、矿物、晶体、微电子等方面进行观察与分析研究等,是工厂、高等院校、科研机构及电子工业部门的首选。采用了反射和透射两种照明形式,并配有落射偏光装置。在反射光照明下可以进行明场和偏光观察,又可在透射光照明下作明场观察。稳定、高品质的光学系统满足您高要求的成像质量,宽阔的机身更体现整体刚性,T形的外观设计为您提供了稳定的基座。人性化的设计,简便的操作将您从繁重的工作压力中解放出来,从而让您全部的精力投入实验之中。
产品特点

技术规格

型号

XJP-401A

XJP-401B

观察头

45°单目头


45°铰链式双目头(55mm-75mm)


目镜

WF10×/18mm

半平场

消色差物镜

放大倍数

10×

100×

数值孔径

0.25

1.25

系统

工作距离

7.31mm

0.37mm

半平场

消色差物镜

放大倍数

40×

数值孔径

0.65

系统

工作距离

0.66mm

总放大倍数

100×-1250×

机械筒长

160mm

调焦

粗、微动同轴调焦机构 微动格值0.002mm调焦范围30mm

工作平台

175mm×135mm

光源

卤素灯6V/20W,AC 220V/110V

载物片

Φ100mm  Φ20mm  Φ42mm

可供附件

目镜:WF12.5×


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